光学测量

   共 5 个产品
  • VIC-3D 非接触全场应变测量系统

    VIC-3D非接触全场应变测量系统,是美国CSI公司(Correlated Solutions, Inc.)经过20多年的科学研究的精髓所在,CSI是DIC(Digital Image Correlation)的原创者和领导者,其技术源自美国南卡罗莱纳大学(USC),其拥有独一无二的3D显微应变测量专利。该系统采用优化的3D数字图像相关性运算法则,为试验提供三维空间内全视野的形状、位移及应变数据测量。

    849 ¥ 0.00
  • μTS介观尺度测试系统

    Psylotech公司的μTS介观尺度测试系统

    152 ¥ 0.00
  • 便携式X射线残余应力分析仪μ-X360n

    日本Pulstec公司推出的新一代便携式X射线残余应力分析仪μ-X360n,是世界上首款将精密全二维面探器技术引入X射线残余应力测量的设备。他的诞生将X射线残余应力分析技术推到一个全新的高度,一经推出就备受业界的青睐

    175 ¥ 0.00
  • NDI 光学动态测量及便携式三维扫描仪

    式激光扫描仪和PRO CMM,成为具有强大的三维扫描能力的ScanTRAK,使用ScanTRAK你可以任意移动扫描仪到任何方位,不用担心中途断光或机械构造的限制,没有限制的移动范围确保覆盖工作部分,大大提高使用者的生产力,使用ScanTRAK非接触式扫描复杂表面细节从而进行曲面检测和逆向工程。

    412 ¥ 0.00
  • ISI 激光剪切散斑检测系统

    I S I检测系统采用激光电子剪切散斑干涉法(Laser Shearography and Speckle Inerferometry),该方法是在激光全息干涉法基础上,利用单光束实现干涉。物体用相干激光照射,借助带有双折射晶体的图像剪切照相机成像。双折射晶体把一物点分成像面上的两个像点,从而在视频照相机的图像传感器上产生一对侧向错位像,物体加载变形前后的两幅散斑图像经视频图像探测采集数字化,存入计算机,两幅散斑图相减形成新的干涉条纹图。从干涉条纹图的变化可判断物体内部是存在缺陷。进一步处理干涉条纹信息,得到二维、三维图像,从而检测出结构件的内部缺陷。

    166 ¥ 0.00

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